50年来初めての視点により解析精度が大幅に向上！
物質にX線を照射した際に得られるデータを基にするリートベルト解析は、産業界の研究・開発・製造現場で物質のミクロな構造を調べるために広く使われています。今回、北川教授とリートベルト解析技術で高い技術を持つ（株）フィゾニット（広島県安芸郡）が共同研究した結果、結晶の長さを正確に知ることができなかった理由を、回折角のデータに現れるピークのずれを考察することにより突き止めました。
X線を用いた結晶構造分析の原理[模式図]（原子間の長さに応じた角度となる）
【従来】長さの計算結果に1兆分の1m程度の幅があった【本成果】1千兆分の6m程度の幅で計算が可能に！
（※原子の半径や原子同士の距離は概ね100億分の数m以内です）
リートベルト解析による回折角データからの結晶構造の分析[模式図]
この成果は、著名なNature Publishing Groupの雑誌Scientific Reportsに
”A necessary criterion for obtaining accurate lattice parameters by Rietveld method（邦訳：リートベルト解析手法によって正確な格子定数を得るために必要な基準）”というタイトルで掲載されました。
本研究は、50年来他の研究に無かった新しい視点により解析精度の大幅な向上に大きく貢献し、これからの産業界をより強固に支える技術になると期待されます。
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福岡工業大学 広報課
TEL：092-606-0607（直通）
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